由于人工智能 (AI)、5G、物聯(lián)網(wǎng) (IoT) 和電動(dòng)汽車(chē) (EV) 的快速發(fā)展，近年來(lái)對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試儀和自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE) 的需求持續(xù)增長(zhǎng)。這些行業(yè)的芯片越來(lái)越復(fù)雜，因此需要更強(qiáng)大、更精確的 ATE 來(lái)進(jìn)行測(cè)試。在設(shè)計(jì)半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備的電源時(shí)，隨著這些測(cè)試儀的復(fù)雜性不斷增加，通常會(huì)導(dǎo)致電…
